IEEE Design & Test
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IEEE DES TEST
JCR Q3中科院 4 区 · 计算机科学SCIE
最新影响因子
2
5年影响因子
1.8
JCR分区
Q3（243/369）
全球排名
9431
ISSN
2168-2356
eISSN
2168-2364
出版商
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
语言
English
JCI
0.44
总引用
1,393
年发文量
38
数据年份
2025
影响因子
2
最新影响因子（2025）
1.8
5年影响因子
JCR Q3 分区
中科院小类 4 区 · 计算机：硬件
中科院小类 4 区 · 计算机：硬件
期刊详细信息
期刊名称IEEE Design & Test
缩写IEEE DES TEST
ISSN2168-2356
eISSN2168-2364
出版商IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
语言English
数据库收录Web of Science(SCIE); Scopus
JCR学科COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE(SCIE):Q3 42/60 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(SCIE):Q3 243/369
JCR分区Q3
JCR排名243/369
全球排名9431
JCI0.44
中科院大类4 区 · 计算机科学
中科院小类4 区 · 计算机：硬件
是否Top期刊否
数据年份2025
