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ITD1530-4388

IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY

✓未列入中科院《国际期刊预警名单》（含官方历年名单与2026动态预警）

IEEE T DEVICE MAT RE

JCR Q3中科院 3 区 · 工程技术SCIE
最新影响因子
2.7
5年影响因子
2.6
JCR分区
Q3（186/369）
全球排名
6749
ISSN
1530-4388
eISSN
1558-2574
出版商
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
语言
English
JCI
0.53
总引用
2,944
年发文量
112
数据年份
2025

影响因子

2.7
最新影响因子（2025）
2.6
5年影响因子
JCR Q3 分区
中科院小类 3 区 · 工程：电子与电气

期刊详细信息

期刊名称IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
缩写IEEE T DEVICE MAT RE
ISSN1530-4388
eISSN1558-2574
出版商IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
语言English
数据库收录Web of Science(SCIE); Scopus
JCR学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(SCIE):Q3 186/369 | PHYSICS, APPLIED(SCIE):Q3 107/191
JCR分区Q3
JCR排名186/369
全球排名6749
JCI0.53
中科院大类3 区 · 工程技术
中科院小类3 区 · 工程：电子与电气
是否Top期刊否
数据年份2025

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