JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING
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J ELECTRON IMAGING
JCR Q4中科院 4 区 · 计算机科学SCIE
最新影响因子
1
5年影响因子
1
JCR分区
Q4(106/129)
全球排名
14440
ISSN
1017-9909
eISSN
1560-229X
出版商
SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
语言
English
JCI
0.23
总引用
2,984
年发文量
323
数据年份
2025
影响因子
1
最新影响因子(2025)
1
5年影响因子
JCR Q4 分区
中科院小类 4 区 · 工程:电子与电气
中科院小类 4 区 · 工程:电子与电气
期刊详细信息
期刊名称JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING
缩写J ELECTRON IMAGING
ISSN1017-9909
eISSN1560-229X
出版商SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
语言English
数据库收录Web of Science(SCIE); Scopus
JCR学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(SCIE):Q4 321/369 | IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY(SCIE):Q4 35/39 | OPTICS(SCIE):Q4 106/129
JCR分区Q4
JCR排名106/129
全球排名14440
JCI0.23
中科院大类4 区 · 计算机科学
中科院小类4 区 · 工程:电子与电气
是否Top期刊否
数据年份2025
