JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
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J ELECTRON TEST
JCR Q4中科院 4 区 · 工程技术SCIE
最新影响因子
1.2
5年影响因子
1.2
JCR分区
Q4（310/369）
全球排名
13416
ISSN
0923-8174
eISSN
1573-0727
出版商
SPRINGER
语言
English
JCI
0.27
总引用
641
年发文量
44
数据年份
2025
影响因子
1.2
最新影响因子（2025）
1.2
5年影响因子
JCR Q4 分区
中科院小类 4 区 · 工程：电子与电气
中科院小类 4 区 · 工程：电子与电气
期刊详细信息
期刊名称JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
缩写J ELECTRON TEST
ISSN0923-8174
eISSN1573-0727
出版商SPRINGER
语言English
数据库收录Web of Science(SCIE); Scopus
JCR学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(SCIE):Q4 310/369
JCR分区Q4
JCR排名310/369
全球排名13416
JCI0.27
中科院大类4 区 · 工程技术
中科院小类4 区 · 工程：电子与电气
是否Top期刊否
数据年份2025
