HOT

免费查重活动 · 新用户注册即送一次 Turnitin 查重

立即领取
发表喜报
恭喜哈尔滨工业大学的陈同学被期刊 ATOMIC DATA AND NUCLEAR DATA TABLES 录取了！二区期刊 IF：6.34祝贺中南大学的李同学第一篇经由Sagesci专家润色后成功被二区 FASEB JOURNAL 的期刊接收了，IF：5.391恭喜西安交通大学土木工程方向的刘同学，Renewable Energy 录用，IF分值5.4恭喜云南农业大学的曹老师，2区期刊 Nutrients，IF:4.17分！云南大学杨教授的两篇文章分别发表在4.1分的期刊 IJMS 和 Frontiers in Plant Science！恭喜徐州医科大学李主任成功发表在 ACS Biomaterials Science & Engineering 二区期刊，IF4.37恭喜上海复旦大学周老师成功发表在 ENVIRONMENTAL POLLUTION 二区期刊，IF5.714
登录免费注册
S
Sagesci 尚辑Academic Editing · Since 2009
MICROELECTRONICS RELIABILITY

MICROELECTRONICS RELIABILITY

✓未列入中科院《国际期刊预警名单》（含官方历年名单与2026动态预警）

MICROELECTRON RELIAB

JCR Q3中科院 4 区 · 工程技术SCIE
最新影响因子
2.5
5年影响因子
2.2
JCR分区
Q3（204/369）
全球排名
7404
ISSN
0026-2714
eISSN
1872-941X
出版商
PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
语言
English
JCI
0.35
总引用
10,164
年发文量
296
数据年份
2025

影响因子

2.5
最新影响因子（2025）
2.2
5年影响因子
JCR Q3 分区
中科院小类 4 区 · 工程：电子与电气

期刊详细信息

期刊名称MICROELECTRONICS RELIABILITY
缩写MICROELECTRON RELIAB
ISSN0026-2714
eISSN1872-941X
出版商PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
语言English
数据库收录Web of Science(SCIE); Scopus
JCR学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(SCIE):Q3 204/369 | NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY(SCIE):Q3 109/148 | PHYSICS, APPLIED(SCIE):Q3 114/191
JCR分区Q3
JCR排名204/369
全球排名7404
JCI0.35
中科院大类4 区 · 工程技术
中科院小类4 区 · 工程：电子与电气
是否Top期刊否
数据年份2025

需要投稿 MICROELECTRONICS RELIABILITY？

Sagesci尚辑提供该期刊投稿全流程服务：格式排版、投稿信撰写、投稿协助、审稿意见回复指导。

一键润色投稿咨询投稿专家
限时活动
推荐好友
推荐好友得奖励
先润色后付款
零风险，满意再付
免费查重
Turnitin数据库
微信客服二维码
微信客服
扫码添加，1对1咨询
MICROELECTRONICS RELIABILITY - 影响因子2.5 Q3分区 | Sagesci尚辑期刊查询 | Sagesci尚辑 - 专业SCI论文润色机构_英文润色_学术翻译